densoku電解膜厚計的原理分析

發(fā)布日期：2022-11-07      瀏覽次數(shù)：527

densoku各類膜厚計的原理

鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測量的。（陽極電解電路見圖1。）在鍍膜結束時，由于測量部分被恒流溶解，膜金屬消失，當金屬出現(xiàn)時，陽極電壓發(fā)生變化，檢測到此電壓變化以結束測量。（見圖2）



電解膜測厚儀的特點

• 雖然是破壞型測量，但可以通過簡單的測量進行測量，也可以測量多層鍍層。

• 可測量雙鎳和三鎳各層的膜厚和電位差

• 可以分別測量在銅上鍍錫時形成的純錫層和合金層的厚度。

• 可測量 X 射線無法測量的厚多層鍍層（最大 300 μm）

• 通過使用電線測試儀，可以測量細電線上的鍍膜厚度。

使用示例

• 鍍錫線（鍍錫銅線）純錫層厚度測量

• 汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層
  測量，Ni鍍層用雙鎳/三鎳電位差測量

• 對無損膜厚計的測量進行交叉檢查

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